微觀(guān)形貌分析項(xiàng)目介紹：

微觀(guān)形貌分析是通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀(guān)察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀(guān)層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀(guān)察的檢測(cè)項(xiàng)目。

微觀(guān)形貌分普遍應(yīng)用的主要工具是電子顯微鏡，其中主要是掃描電子顯微鏡(SEM)，還有透射電子顯微鏡(TEM)的部分功能。這類(lèi)儀器是利用電子束作為探針，與被分析樣品發(fā)生相互作用，作用后的電子攜帶著樣品形貌特征的信息，電子顯微鏡使這些信息以放大圖像的形式顯示。

微觀(guān)形貌分析應(yīng)用領(lǐng)域：

金屬及非金屬類(lèi)產(chǎn)品

微觀(guān)形貌分析檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析

隱石檢測(cè)服務(wù)流程：

咨詢(xún)溝通：確認(rèn)客戶(hù)檢測(cè)項(xiàng)目，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)要求，并填寫(xiě)測(cè)試申請(qǐng)表

提供樣品：樣品可選擇寄送或者上門(mén)檢測(cè)

簽約付款：確認(rèn)委托后，安排打款，收款后通知開(kāi)案

分析測(cè)試：根據(jù)測(cè)試申請(qǐng)表安排測(cè)試

出具報(bào)告：根據(jù)測(cè)試申請(qǐng)表及檢測(cè)結(jié)果出具報(bào)告，委托方確認(rèn)無(wú)誤后，檢測(cè)報(bào)告簽字蓋章

寄送報(bào)告：檢測(cè)報(bào)告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送

增值服務(wù)：檢測(cè)樣品保留2個(gè)月

我們的優(yōu)勢(shì)：

1.報(bào)告權(quán)威：具有CMA和CNAS資質(zhì)，特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)核準(zhǔn)證書(shū)

2.設(shè)備先進(jìn)：擁有業(yè)內(nèi)專(zhuān)業(yè)檢驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備300多臺(tái)

3.專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)：擁有專(zhuān)業(yè)服務(wù)及檢測(cè)團(tuán)隊(duì)，業(yè)務(wù)覆蓋全國(guó)

4.加工中心： 擁有自己的數(shù)控加工中心，滿(mǎn)足不同檢測(cè)項(xiàng)目的加工制樣要求