鍍層厚度測量項(xiàng)目介紹：

鍍層厚度測量：金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝，提高效益。

鍍層厚度測量一般有3種方法：

1、金相法：

采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大，誤差越小。

2、庫侖法：

適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

3、X-ray 方法：

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金(Au)，銀(Ag)，錫(Sn)，銅(Cu)，鎳(Ni)，鉻(Cr)等金屬元素厚度。

本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。

鍍層厚度測量應(yīng)用領(lǐng)域：

鍍鎳、鍍鉻、鍍金、鍍錫、鍍銀等金屬鍍層

鍍層厚度測量檢測標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法

ASTM B487-1985(2007) 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗(yàn)方法

ISO 1463-2003 金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法

隱石檢測服務(wù)流程：

咨詢溝通：確認(rèn)客戶檢測項(xiàng)目，檢測標(biāo)準(zhǔn)，檢測要求，并填寫測試申請表

提供樣品：樣品可選擇寄送或者上門檢測

簽約付款：確認(rèn)委托后，安排打款，收款后通知開案

分析測試：根據(jù)測試申請表安排測試

出具報(bào)告：根據(jù)測試申請表及檢測結(jié)果出具報(bào)告，委托方確認(rèn)無誤后，檢測報(bào)告簽字蓋章

寄送報(bào)告：檢測報(bào)告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送

增值服務(wù)：檢測樣品保留2個(gè)月

我們的優(yōu)勢：

1.報(bào)告權(quán)威：具有CMA和CNAS資質(zhì)，特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測核準(zhǔn)證書

2.設(shè)備先進(jìn)：擁有業(yè)內(nèi)專業(yè)檢驗(yàn)檢測設(shè)備300多臺(tái)

3.專業(yè)團(tuán)隊(duì)：擁有專業(yè)服務(wù)及檢測團(tuán)隊(duì)，業(yè)務(wù)覆蓋全國

4.加工中心： 擁有自己的數(shù)控加工中心，滿足不同檢測項(xiàng)目的加工制樣要求